扫描电子显微镜-日本电子

发布者：王敬鹏发布时间：2024-10-28浏览次数：23

仪器所属部门：分析测试中心  安置地点：电镜中心106  保管人：曹志强

主要技术特色：

材料的表面形貌、结构观测。材料表面的元素分析，高通量表征。

主要技术指标：

高真空模式分辨率1.5nm(30KV),4nm(1KV)

分析模式下分辨率3.0nm（15KV,束流1nA）

低真空模式分辨率1.8nm(15KV)