仪器介绍：X射线缺陷探测仪(工业CT)可非接触、非破坏地检测物体内部结构，得到没有重叠的数据和图像，不仅精确地给出物体内部细节的三维位置数据，还可以定量地给出细节的辐射密度数据。快速、准确、直观的查找到产品的内部缺陷（缺陷类型、位置、尺寸等），如裂纹、气孔、疏松、夹杂等缺陷，并进行分析，找到出现缺陷的根本原因，从而提高产品性能，延长产品使用寿命。
主要技术参数：
双源：射线源450Kv/300Kv
双探：面阵探测器/线阵探测器，面阵探测器节距139μm，线阵探测器节距254μm。
焦点尺寸：微焦点4μm，小焦点0.4mm。
7轴：X行程 1000mm，YD行程1450mm。
预约使用：https://sysjc.usst.edu.cn/lab/webindex/equ_detail.do?equid=AAFD1A00158443D2AA6F40E1A3C1242F